美國(guó)PSS粒度儀可以記錄散射光強(qiáng)信號(hào)

   美國(guó)PSS粒度儀了分辨率更高，結(jié)果更，再現(xiàn)性更好，您不僅可以測(cè)量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測(cè)到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測(cè)量；新型的干、濕進(jìn)樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

   美國(guó)PSS粒度儀新一代固體激光光源，無(wú)需預(yù)熱，7萬(wàn)小時(shí)以上開(kāi)機(jī)使用壽命，并行式信號(hào)采集與傳輸，確保信號(hào)保持高信噪比、無(wú)時(shí)差、高通量，多波長(zhǎng)和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的性分析獲得高度保障。美國(guó)PSS粒度儀多種自動(dòng)化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換，便利，新一代觸摸屏設(shè)計(jì)分析軟件，操作更直觀，無(wú)需操作經(jīng)驗(yàn)，簡(jiǎn)單三步完成測(cè)量，直觀醒目的導(dǎo)航輪，僅需一步實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。

   美國(guó)PSS粒度儀檢測(cè)器數(shù)量更多，高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測(cè)器，對(duì)應(yīng)高達(dá)136個(gè)真實(shí)數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、的真實(shí)粒度測(cè)量。美國(guó)PSS粒度儀設(shè)計(jì)的“X”型對(duì)數(shù)排布檢測(cè)器陣列，可以記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，不管單峰、多峰，分析粒度分布。

   美國(guó)PSS粒度儀全自動(dòng)運(yùn)算分析功能，多峰自動(dòng)檢測(cè)，無(wú)需事先猜測(cè)峰型，無(wú)需選擇分析模型，提供客觀的報(bào)告，PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測(cè)量，不僅可以直接檢測(cè)小至10nm的顆粒，而且還可以直接檢測(cè)納米級(jí)的多峰分布。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強(qiáng)大，真正10nm的測(cè)量可使其作為獨(dú)立的高分辨率納米粒度分析儀使用。

   美國(guó)PSS粒度儀能對(duì)樣品的顆粒數(shù)目進(jìn)行量化，打破了科技界以往通過(guò)光散射和光衍射方法只能檢測(cè)均粒徑分布的局限，不僅能檢測(cè)顆粒大小，更能對(duì)顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。美國(guó)PSS粒度儀這給了研究、生產(chǎn)和質(zhì)控人員對(duì)樣品中顆粒的大小、數(shù)目一個(gè)清晰明了的結(jié)果，大大助力于其研發(fā)和生產(chǎn)。